技術與洞察

探索最新的材料分析技術、失效案例研究以及半導體產業趨勢。

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分析技術 2005/11/28

原子级成像50年(2005年標題)

1955年10月11日,宾夕法尼亚州立大学的物理学教授Erwin W. Müller和他的博士生Kanwar Bahadur创造了历史——成功實現單原子成像。

Author Chemical & Engineering News
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分析技術 2025/08/25

AFM納米壓痕技術

若希望在不依賴昂貴的電子顯微鏡原位量測的情況下,達到更小的量測尺度並同時具備優異的成像能力,則可採用原子力顯微鏡(AFM)壓痕技術。